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ic成品生產(chǎn)流程方面的測(cè)試
發(fā)布時(shí)間：2019-03-02 16:27:39
如從生產(chǎn)流程方面的測(cè)試講，IC測(cè)試一般又分為芯片測(cè)試、成品測(cè)試和檢驗(yàn)測(cè)試，除非特別需要，芯片測(cè)試一般只進(jìn)行直流測(cè)試，而成品測(cè)試既可以有交流測(cè)試，也可以有直流測(cè)試，在更多的情況下，這兩種測(cè)試都有。在一條量產(chǎn)的生產(chǎn)線上，檢驗(yàn)測(cè)試尤為重要，它一般進(jìn)行和成品測(cè)試一樣的內(nèi)容，它是代表用戶對(duì)即將入庫(kù)的成品進(jìn)行檢驗(yàn)，體現(xiàn)了對(duì)實(shí)物質(zhì)量以及制造部門工作質(zhì)量的監(jiān)督。
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