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ic成品測試詳細分類
發(fā)布時間：2018-12-19 18:25:11
IC測試一般分為物理性外觀測試（Visual Inspecting Test），IC功能測試（Functional Test）,化學腐蝕開蓋測試（De-Capsulation），可焊性測試（Solderbili ty Test），直流參數(shù)（電性能）測試（Electrical Test）, 不損傷內部連線測試（X-Ray），放射線物質環(huán)保標準測試（Rohs）以及失效分析（FA）驗證測試。
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