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ic成品測(cè)試簡(jiǎn)介
發(fā)布時(shí)間：2018-10-11 18:22:27
任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設(shè)計(jì)的單片模塊，IC測(cè)試就是集成電路的測(cè)試，就是運(yùn)用各種方法，檢測(cè)那些在制造過(guò)程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。如果存在無(wú)缺陷的產(chǎn)品的話，集成電路的測(cè)試也就不需要了。由于實(shí)際的制作過(guò)程所帶來(lái)的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無(wú)論怎樣完美的產(chǎn)品都會(huì)產(chǎn)生不良的個(gè)體，因而測(cè)試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。
